牛津儀器近幾年檢測技術(shù)的發(fā)展
發(fā)布日期:2014-07-08
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過(guò)去3年,超大面積硅漂移檢測儀器CMI200測厚儀系列系列在市場(chǎng)一直占有主導地位。日前牛津儀器發(fā)布了該系列的新一代產(chǎn)品,新產(chǎn)品具備更為卓越的分析性能,分辨率可達0.1μm。
牛津儀器一直致力于科技創(chuàng )新,運用較新科技成果提供世界一流產(chǎn)品。這一優(yōu)良傳統不斷促進(jìn)硅漂移檢測技術(shù)的發(fā)展。CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品的問(wèn)世,意味著(zhù)該技術(shù)取得前所未有的突破與發(fā)展。
CMI200測厚儀系列新產(chǎn)品性能升級,是檢測面積、速度和分辨率的更佳組合。該產(chǎn)品具有在指定掃描時(shí)間內自動(dòng)平均讀數,且仍能保持高計數率、快速成像、以及優(yōu)異的檢測分析性能。
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